Le/La candidat(e) retenu(e) assistera le développement d'expériences d'holographie électronique in situ et operando au sein du groupe I3EM du CEMES-CNRS à Toulouse et en particulier sera en charge de la préparation d’échantillon par faisceau ionique focalisé (FIB). En effet, le groupe I3EM du CEMES-CNRS (Toulouse, France) développe depuis plus de 10 ans des expériences de microscopie électronique à transmission (TEM) in situ et operando dans le but de faire fonctionner des nanostructures et des nanodispositifs tout en mesurant les champs électriques, magnétiques et de déformation qui en résultent à l'échelle nanométrique. Nos travaux récents ont montré que ce type d’expérience produisent des résultats extrêmement intéressants [1,2,3]. Nous souhaitons poursuivre ces développements afin de comprendre le comportement d'une variété de dispositifs à l'échelle nanométrique tels que les nanocondensateurs, les transistors, les films minces ferroélectriques et les dispositifs.
Le point clé de ces expériences difficiles est la préparation des échantillons : les dispositifs sont extraits en forme de lame mince par faisceau d'ions focalisés (FIB) et mis en contact avec des chips spécialement conçues pour des porte-objets in situ. Pour que les expériences réussissent, il faut pouvoir réaliser des zones d'échantillons suffisamment minces, d'une épaisseur uniforme et des couches de dommages superficiels minimes tout en maintenant les contacts électriques. La caractérisation électrique conventionnelle des dispositifs macroscopiques et des couches minces sera également importante pour comprendre le comportement.
L'ingénieur(e) que nous souhaitons recruter au sein de l'équipe sera chargé de toutes les activités de préparation des échantillons. Il/elle participera également à la caractérisation électrique et structurelle de base effectuée en FIB et TEM de l'échantillon avant les expériences in-situ. Il/elle sera étroitement impliqué(e) dans la définition et l'optimisation des protocoles expérimentaux.
Le contrat initial est de 12 mois et peut être prolongé jusqu'à 36 mois (3 ans).
Date de début : dès que possible.
[1] L. Zhang, F. Lorut, K. Gruel, M.J. Hÿtch, and C. Gatel, Nano Letters 24, 5913-5919 (2024). Measuring electrical resistivity at the nanoscale in phase-change materials. 10.1021/acs.nanolett.4c01462
[2] C. Gatel, R. Serra, K. Gruel, A. Masseboeuf, L. Chapuis, R. Cours, L. Zhang, B. Warot-Fonrose, and M. J. Hÿtch, Phys. Rev. Lett. 129, 137701 (2022). Extended charge layers in metal-oxide-semiconductor nanocapacitors revealed by operando electron holography. 10.1103/PhysRevLett.129.137701, hal-03787333
[3] M. Brodovoi, K. Gruel, A. Masseboeuf, L. Chapuis, M. Hÿtch, F. Lorut, and C. Gatel, Appl. Phys. Lett. 120, 233501 (2022). Mapping electric fields in real nanodevices by operando electron holography. 10.1063/5.0092019, hal-03752638
Activités
Les activités principales seront
• préparation et contactage électrique des échantillons
• mesures électriques et caractérisations initiales
• participation aux expériences operando TEM
• définition des protocoles
Compétences
Nous recherchons en particulier un(e) candidat(e) intéressé(e) par la préparation avancée de spécimens par FIB, qui nécessite du soin et dédication. La formation aux techniques sera assurée par le laboratoire et le/la candidat(e) devrait faire preuve d’une grande volonté d’apprendre. Une expérience dans les techniques FIB et TEM est donc souhaitée mais non exigée. La connaissance des techniques de caractérisation électrique serait un plus.
Le candidat retenu doit avoir un bon esprit d'équipe, une attitude de travail sérieuse, le désir d'apprendre et un anglais opérationnel.
Contexte de travail
Le CEMES est une unité propre du CNRS reconnu internationalement pour les études et les développements en microscopie électronique en transmission. Les missions se dérouleront au sein du groupe I3EM dont un des objectifs est le développement de l’interférométrie électronique couplée aux études in situ. Les travaux se feront en collaborations avec des services du laboratoire, mais aussi dans le cadre de collaborations nationales et internationales.
La préparation des échantillons sera effectuée sur un FIB-SEM à double faisceau (ThermoFisher Helios Nanolab 600i) équipé d’un micromanipulateur Omniprobe et de 5 injecteurs de gaz.
L’holographie électronique sera réalisée sur le microscope I2TEM dédié à l’interférométrie in situ. Ce microscope Hitachi HF-3300(C) est équipé d’un canon à émission de champ froid, d’un goniomètre supplémentaire (stage Lorentz) placée au-dessus de la lentille objectif pour une imagerie sans champ, d’un correcteur d’aberrations à grand champ de vue (CEOS B-COR), de plusieurs biprismes électroniques, d’une caméra à détection directe d’élecrons (K3, Gatan) et d’un filtre d'imagerie (GIF Quantum ER, Gatan). Le porte-objet dédié à l’application de courant/tension Hummingbird complète les moyens expérimentaux.
Le poste se situe dans un secteur relevant de la protection du potentiel scientifique et technique (PPST), et nécessite donc, conformément à la réglementation, que votre arrivée soit autorisée par l'autorité compétente du MESR.
Le CEMES est une unité propre du CNRS reconnu internationalement pour les études et les développements en microscopie électronique en transmission. Les missions se dérouleront au sein du groupe I3EM dont un des objectifs est le développement de l’interférométrie électronique couplée aux études in situ. Les travaux se feront en collaborations avec des services du laboratoire, mais aussi dans le cadre de collaborations nationales et internationales.
La préparation des échantillons sera effectuée sur un FIB-SEM à double faisceau (ThermoFisher Helios Nanolab 600i) équipé d’un micromanipulateur Omniprobe et de 5 injecteurs de gaz.
L’holographie électronique sera réalisée sur le microscope I2TEM dédié à l’interférométrie in situ. Ce microscope Hitachi HF-3300(C) est équipé d’un canon à émission de champ froid, d’un goniomètre supplémentaire (stage Lorentz) placée au-dessus de la lentille objectif pour une imagerie sans champ, d’un correcteur d’aberrations à grand champ de vue (CEOS B-COR), de plusieurs biprismes électroniques, d’une caméra à détection directe d’élecrons (K3, Gatan) et d’un filtre d'imagerie (GIF Quantum ER, Gatan). Le porte-objet dédié à l’application de courant/tension Hummingbird complète les moyens expérimentaux.
Le poste se situe dans un secteur relevant de la protection du potentiel scientifique et technique (PPST), et nécessite donc, conformément à la réglementation, que votre arrivée soit autorisée par l'autorité compétente du MESR.
En cliquant sur "JE DÉPOSE MON CV", vous acceptez nos CGU et déclarez avoir pris connaissance de la politique de protection des données du site jobijoba.com.