Missions :
Le contrat post-doctoral s'intègre dans le projet ALTAMIANTE centré sur l’étude de l'altération chimique et biologique des déchets amiantés.
Dans le cadre de cette fonction, la candidature retenue jouera un rôle clé dans la caractérisation avancée des matériaux altérés (ACW) via des techniques de microscopie électronique haute résolution, incluant TEM, Cryo-TEM, EDX, et in-situ TEM.
La ou le candidat retenu-e travaillera en concertation avec les membres de la plateforme et interagira régulièrement avec toutes les personnes externes, scientifiques, collaborateurs ou partenaires industriels, intéressées par les études à hautes résolutions spatiale et temporelle par microscopie électronique
Activités :
- Réalisation d'analyses par microscopie électronique (TEM, SEM, Cryo-TEM, in-situ TEM)
- Mise en œuvre des expériences d’altération biologique
- Analyse structurale, morphologique et chimique des fibres ACW traitées
- Collaboration étroite avec les partenaires du projet
- Participation à l'élaboration de modèles physico-chimiques
- Rédaction de rapports scientifiques et participation à des publications
Contexte de travail :
Le poste est basé à l'Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg ( (IPCMS-UMR 7504) CNRS - Université de Strasbourg, laboratoire expert en microscopie électronique avancée, plus précisément l'équipe « Nanomatériaux et microscopie électronique » du département « Surfaces et Interfaces » et la plateforme expérimentale associée dans le cadre du projet ANR ALTAMIANTE, aux côtés de partenaires en microbiologie et traitement chimique de l'amiante.
L'IPCMS dispose du microscope JEOL Grand ARM 2 (unique en France) pour l'observation in-situ à haute résolution. La plateforme TEM est spécialisée dans les environnements liquides, Cryo-TEM, EDX, etc.
La ou le candidat retenu travaillera en concertation avec les membres de la plateforme et interagira régulièrement avec toutes les personnes externes, scientifiques, collaborateurs ou partenaires industriels, intéressées par les études à hautes résolutions spatiale et temporelle par microscopie électronique.
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